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Toshiba X光透视探伤仪

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品牌

东芝

型号

TOSMICRON-S5110IN X光透视探伤仪(电子元件)

产地

亚洲日本

应用领域

暂无
该产品已下架

可进行倾斜透视检查的标准倾斜型号 适合范围:电子装置、封装基板等

? 特征

1. 搭载新开发的微焦开放管。灯丝实现原有的约3倍寿命(和本公司比)。

2. 搭载了TOSMICRON?S系列共通的高性能软件和高速?高精度机械。实现舒适操作性和高性能。

3. 通过最大60°的检测器倾斜、可从倾斜方向透视。标准装备了通过同步追踪可修正追踪功能。

4. 大型样品台(600×350mm)可对应。

 

? 适合范围

1. IC电子元件的高放大检查

2. 表面封装元件的接合部检查

3. 小型精密元件检查


主要规格

 


型号


TOSMICRON?S5110IN

 


X射线发生装置


开放管,最大110kV,200μA,公称最小焦点3μm

 


检测器


4/2英寸I.I.

 


最大放大率(样品台面)


约525倍

 


倾斜功能


检测器倾斜0~60°

 


样品台尺寸


X410mm×Y360mm(有效摄影范围350×300mm)(标准型号)

 

 


X600mm×Y350mm(加大型号)

 


装置外形尺寸(本体)


W1150×H1670×D1430mm(标准型号)

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