BH Nanome|x NEO 180 穿透式影像检测系统
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BH Nanome|x NEO 180 穿透式影像检测系统

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品牌

贝克休斯（原美国GE）

型号

Nanome|x NEO 180

产地

美洲美国

应用领域

共1个
先驰精密仪器（东莞）有限公司

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phoenix最新的micromelx neo和nanomelx neo 系列产品将高分辨率的2D X射线技术和3D CT技术完美地集成于一套系统。多项独特的创新设计，以及极高的定位精度，使得这套系统成为科学研究、缺陷分析、过程和质量控制等领域可靠有效的解决方案。
 

全新钻石靶材

  1. 高输出功率以及高分辨率

  2. 在长时间使用下可以稳定焦点

  3. CT扫描速度提高2倍

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FLASHTM

  1. 透过软件简军快速地进行滤波效果

  2. 将黑白对比更突显出来，有效的观察缺陷位置

 

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Planar CT平面CT系统，提供切片以及整个立体结构的影像

  1. 轻瘾完成大型电路板的2D切片以及3D影像

  2. 无须裁切大型电路板，并且针对多层结构不会有重迭影像的问题

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左上：完成Planar CT 后，无上下重迭影像
右下：传统2D影像，影像重迭较难分析
 
标准CT计算机断层扫描

  1. 高解析CT隐用，可以找出半导体封装常见缺陷

  2. CT影像适合针对RD硏究分析或是缺陷样品进行细微分析与观察

  3. 最低voxel size可达2um, 特殊条件下可以更低

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