报价 ¥20万 - 50万
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上海致东全光谱反射式膜厚测量仪另有大型膜厚量测仪,针对Thin-Film Solar Cell及TFT-LCD的客制化应用机型
由椭圆仪校正量测色度坐标量测时间1-3s ,精确度高国内自行研发,价格合理量测膜厚(N.K)值 .量测穿透率(T%).反射率(R%)FFT for very thick layer (up to 50 um)
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