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Sarfus HR stations是免标记、纳米级实时样品表征的分析仪器，基于独特的（SEEC）
表面对比增强椭圆偏振显微技术。 Sarfus HR stations可追踪表面的变化，提供高横向
分辨率的实时图像和厚度测量。这将为研究分子相互作用，层次与形态变化，生物膜组装
等表面现象提供更多的信息。仪器简单易用，只需几秒就可完成样品表征，并为特定环境
下样品的分析提供多种组件。
Sarfus HR stations是一个完整的一站式仪器，包括仪器，软件与电脑。每一个仪器组
件都经过严格挑选，确保提完美的图像质量和最高的纳米级测量精度。
软件：Sarfus HR stations提供易于操作和功能强大的软件Sarfusoft 和 Mountains Map.
仪器功能：
实时观测薄膜/分辨率达纳米级
纳米薄膜和纳米图案形貌分析
实时研究分子的吸附和解吸
适时研究（生物）薄膜的组装和降解
实时观测纳米物体的分散
实时观测纳米物体/生物层的相互作用
Graphene & monosheet石墨烯&纳米片表征
表征溶胀/热响应的效应
…
性能参数：
研究对象：
纳米薄膜 纳米图案 LB膜 聚电解质层 石墨烯 纳米颗粒
液晶 脂质层 生物膜 涂层 纳米管 SAMs 细胞膜/薄膜 分子层 生物切片
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