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美国Nanovea三维光学轮廓仪

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品牌

NANOVEA

型号

PS50

产地

美洲美国

应用领域

暂无

非接触式轮廓仪/粗糙度仪

进口

PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器性价比高,可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。
产品特性
采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率
测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高
测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);
尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
不受环境光的影响
测量简单,样品无需特殊处理
Z方向,测量范围大:为27mm
主要技术参数
扫描范围:50×50(mm)
扫描步长:0.1μm
扫描速度:20mm/s
Z方向测量范围:27mm
Z方向测量分辨率:2nm
产品应用
MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。

售后服务

1年

6月1次

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