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非接触式轮廓仪/粗糙度仪
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白光干涉仪
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创新点1、优异的设备硬件设计：ContourX-1000具有Bruker专利的倾斜/俯仰光学头和特有的双光源及自动化功能样品台，能够为有难度的表面和深沟槽结构提供快速且优异的解决方案。
2、高测量准确性：ContourX-1000具有自校准激光和集成的防震台，使其能够与其它工具高度匹配并显著提升工作稳定性，保证测量性能。
3、自动化测量与分析：ContourX-1000的全局扫描干涉(USI)自适应测量模式可自动确定测量参数，保证测试在数十纳米尺度内也可获得纳米级分辨率。提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式，更大程度的方便用户使用。
落地式ContourX-1000 白光干涉（WLI）系统集成了Bruker 在硬件和软件上的最新技术， 可 用于全自动三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面 （Advanced Find Surface ™）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简 洁的引导式 VisionXpress ™操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。
ContourX-1000独有特点：
倾斜 / 俯仰光学头、双光源和先进的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。
自校准激光和集成的防震台可确保极高的测 量准确性和可靠性 。
提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式，更大程度的方便用户使用。
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三维光学轮廓仪ContourX-1000信息由布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)为您提供，如您想了解更多关于三维光学轮廓仪ContourX-1000报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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