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滨松荧光寿命测试仪C11367系列

报价 ¥50万 - 100万

品牌

滨松

型号

C11367系列

产地

亚洲日本

应用领域

共1个
该产品已下架

光栅

进口

稳态荧光光谱仪

可选

<2nm

>75e-/scan@20ms,-15℃

0.1nm

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滨松荧光寿命测试仪C11367系列是一款针对发光材料、光伏器件以及半导体材料荧光寿命测量的紧凑型集成化设备。C11367集成探测器、激发光源、分光装置以及样品仓为一体,极大地节省了空间,同时全自动控制软件协调各部分的功能,实现测量的自动化,只需要四步即可得到结果。C11367提供的外接光源接口,可以外接多种光源实现不同的测试需求。外接闪烁氙灯,可以实现长寿命磷光材料的寿命测量;外接皮秒激光器,可以实现亚纳秒级的荧光寿命测量以及低发光效率的寿命测量。


产品指标:

型号

C11367-31

C11367-34

C11367-32

C11367-35

样品类型

溶液, 薄膜

固体

(薄膜,粉末)

溶液, 薄膜

固体

(薄膜, 粉末)

探测器类型

标准型

近红外型

波长范围

300nm   – 800nm

380nm   –1030nm

激发光源

7个波长LED光源(280nm, 340nm,   365nm, 405nm, 470nm, 590nm630nm

激发光源选择

软件控制

单色仪

Czerny-Turner型单色仪

测量时间范围

4   ns – 10 s/满量程

磷光测试

磷光激发波长(280nm,   340nm, 365nm, 405nm, 442nm, 470, 589nm632nm

时间轴通道数

512ch1024ch2048ch4096ch

整体时间分辨率

<1ns

分析功能

荧光寿命分析(可分析5种荧光寿命组分)及光谱分析

 

配件:

型号

说明

标准

配置

磷光寿命测试

亚纳秒级寿命测试

控温低温测试

液氮低温测试

C11367

荧光寿命测量系统

A11797-02

液氮低温测试样品仓

A12268-01

牛顿低温恒温器样品仓

A11238-04

液氮低温测试样品托台

C11567-02

闪烁氙灯

A12991-XXX

紫外带通滤光片

可选

A13905-XXX

可见光带通滤光片

可选

PLP-10

皮秒激光器

A12487-01

皮秒激光器适配器

 

应用案例:

- TADF材料荧光寿命的温度依赖性

C11367荧光寿命测试仪-案例1.png

- 稀土化合物的发光特性

C11367荧光寿命测试仪-案例2.png


售后服务

1年

5-10人次技术培训,提供线上远程支持

免费维修及维护

24小时内响应并处理,48小时抵达现场

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滨松荧光寿命测试仪C11367系列信息由北京睿光科技有限责任公司为您提供,如您想了解更多关于滨松荧光寿命测试仪C11367系列报价、型号、参数等信息,睿光科技客服电话:400-860-5168转3995,欢迎来电或留言咨询。

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