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- 5V DC, 3.5A
- 线性阵列InGaAs探测器
- 3.5
- 交叉式 Czerny-Turner
- 100,000:1，6250:1
- 16-bit 或 65,535:1
- 500 kHz
- Min：200μs，Max：~64s
- 0 - 35°C
- -5°C @ 相对湿度= 90%
- 1.4 kg
- 197mm x 109mm x 68mm
- USB 2.0 / 1.1
- Windows:7, 8, 10, 11
必达泰克InGaAs 阵列光谱（900-1700nm） 是一款高性能线性铟镓砷（InGaAs）阵列光谱仪，探测器具有512个像元，可提供很高的光通量和较宽的动态范围。TE制冷可低至-5℃。 光谱仪采用SMA 905标准光纤接口、内置16位模数转 换，兼容即插即用USB 2.0。通过配套的BWSpec软件， 用户可以灵活选择高灵敏度模式或是高动态范围模 式。此外，可根据客户要求定制配置和提供应用支持。
技术参数：
| 型号 | BTC261P |
| 直流输入 | 5V DC, 3.5A |
| 交流输入 | 100 - 240 VAC 50/60 Hz, 0.5A @ 120VAC |
| 探测器类型 | 线性阵列InGaAs探测器 |
| 探测器像元 | 512 x1 像元阵列 @ 像元尺寸25μm x 500μm |
| 光路f／＃ | 3.5 |
| 光路类型 | 交叉式 Czerny-Turner |
| 动态范围 | 高动态范围模式:100,000:1 高灵敏度模式: 6,250:1 |
| 数字分辨率 | 16-bit 或 65,535:1 |
| 读出速度 | 500 kHz |
| 数据传输速度 | >200谱/秒（USB 2.0） |
| 积分时间 | Min：200μs，Max：~64s |
| Aux接口 | 外部触发控制，数字 I/O 口 |
| 工作温度 | 0 - 35°C |
| TE 制冷 | -5°C @ 相对湿度= 90% (-20°C 可选) |
| 重量 | 1.4 kg |
| 尺寸 | 197mm x 109mm x 68mm |
| 数据接口 | USB 2.0 / 1.1 |
| 操作系统 | Windows: 7, 8, 10, 11 |
产品特性：
光谱范围 900nm-1100nm
分辨率最高至0.35nm
内置16位模数转换
制冷可达-20℃
两种增益模式满足特殊应用需求
可选配256或1024像元
应用：
过程监测
近红外光谱分析
质量控制
在线分析
材料鉴定
产品附件：
光源
光纤
光纤探头
光纤采样支架
TE半导体制冷：采用内置的TE制冷器对阵列探测器进行制冷是降低暗噪声的有效手段，在增加探测器的动态范围同时提高了其检测限。
当InGaAs探测器从室温25℃被降低到-10℃时，其暗电流将降低约12.25倍，其暗电流噪声将降低约3.5倍。这使得光谱仪可以进行长积分时间检测以及弱光检测。
软件：BWSpec®光谱数据采集软件可执行复杂的测量和计算。它允许用户在多种数据格式之间进行选择，并可以设置扫描参数，如积分时间。除了强大的数据采集和数据处理功能外，还包括自动去除暗电流、光谱平滑和手动/自动基线校正等功能。并可额外提供带演示代码的SDK。
可选狭缝：
狭缝 | 尺寸 | 光谱分辨率 900-1700 nm |
25μm | 25μm x 1mm | ~4.0nm |
50μm | 50μm x 1mm | ~5.0nm |
100μm | 100μm x 1mm | ~8.4nm |
客户定制可选 | ||
衍射光栅：
建议响应波段(nm) | 光栅 | 光谱分辨率 25μm狭缝 |
1500 - 1600 | 1000 / 1310 | 0.35nm |
1260 - 1355 | 1000 / 1310 | 0.4nm |
1450 - 1650 | 600 / 1200 | 0.8nm |
1200 - 1400 | 600 / 1200 | 0.7nm |
900 - 1300 | 300 / 1200 | 1.5nm |
1200 - 1600 | 300 / 1200 | 1.5nm |
900 - 1700 | 150 / 1250 | 4.0nm |
客户定制可选 | ||
1年
否
有
5-10人次技术培训，提供线上远程支持
无
免费维修及维护
24小时内响应并处理，48小时抵达现场
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