仪器对比
关注
Semilab WT-2000 半导体多功能测试仪
WT-2000 Multifunction Wafer Mapping Systems
WT-2000 提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激发光，适合Si，SiC, GaAs, CdZnTe, InGaAs 等各种材料电学参数测试。
测试选项：
u-PCD 技术做少子寿命扫描测试
表面光电压(SPV)做扩散长度面扫描测试
光诱导电流(LBIC)测试材料缺陷分布
测试特定金属杂质和沾污：Fe
涡流法测试电阻率
4探针测试电阻率
售后服务
免费保修一年，保外提供收费服务
否
有
保修期内免费提供培训，保修期外提供收费培训服务
保修期内提供免费上门提供保养，保修期外提供收费上门保养
免费保修
24小时服务
Semilab WT-2000 半导体多功能测试仪信息由北京锐峰先科技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于Semilab WT-2000 半导体多功能测试仪报价、型号、参数等信息，锐峰先科客服电话：400-860-5168转3099，欢迎来电或留言咨询。
相关产品
