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光-电联用显微镜法(CLEM)系统

报价 ¥100万 - 200万

品牌

日立

型号

CLEM

产地

亚洲日本

应用领域

暂无

1:

  • CLEM (Correlative light and electron microscopy):光学显微镜和电子显微镜的联用观察显微镜法



特色
MirrorCLEM是搭配FE-SEM,迅速并准确支援CLEM解析的系统。
使用此系统,在光学显微镜下从低倍率到高倍率清晰观察树脂切片目标结构后,让观察位置与FE-SEM样品台坐标信息同步,通过控制马达台在FE-SEM上可观察同一位置。
此外,还可实时显示光学显微镜和FE-SEM的叠加图像。

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