仪器简介:
用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、
导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
主要由电器测量部分及四探针头组成,需要时可加配测试架。
用同一块数字表测量电流及电阻率。
技术参数:
型号:L510417
可测电阻率:0.01~199.99Ω;
可测方块电阻:0.1~1999Ω;
输出电流:DC0.1~10mA,分两档;
量程:0.1~1mA,1~10mA;
恒流精度:各档均优于±0.1%;
测量:0~199.9mV;
灵敏度:100μV;
电源:AC220V±10%,50/60Hz;
功率:8W;温度:23±2℃;
相对湿度:<65%;重量:2.2kg;
体积:210X100X240(mm);
产地:中国
主要特点:
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