石英晶体天平

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石英晶体微天平是一种高灵敏度的质量测量仪器，它通过利用石英晶体振动的特性来测量微小物体的质量。石英晶体微天平通常由一个石英晶体片和微电子机械系统（MEMS）组成，这个MEMS系统可以将待测的样品放置在石英晶体片的表面上，当样品被放置在晶体表面上时，会产生质量的变化，引起晶体片的振动频率发生变化。通过测量晶体片振动频率的变化，就可以得到待测样品的质量。 石英晶体微天平广泛应用于微小质量的测量，例如纳米级的生物分子、化合物、材料等的质量测量和微小质量变化的监测等领域。石英晶体微天平结构简单、精度高、响应速度快、使用寿命长等特点，因此在生物学、化学、物理学等科学研究领域有着广泛的应用。

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