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半导体材料能带测试,亚带隙测量系统
该系统采用恒定光电流法分析半导体薄膜和各种光导材料的带隙结构，是评价非晶硅和各种非晶半导体的理想方法。
规格：
原理:恒流法(CPM)
光源:氙灯或卤素灯
工作范围:约4小时，13 - 0.59 ev (300 - 2100 nm)
辐照面积:6 x6mm
辐照强度:2 nw-2mw
售后服务
1年
否
有
免费培训
一年一次
一年保修
一周内上门维修
亚带隙测量系统 半导体材料能带测试信息由上海沃埃得贸易有限公司为您提供，如您想了解更多关于亚带隙测量系统 半导体材料能带测试报价、型号、参数等信息，上海沃埃得客服电话：400-860-5168转2623，欢迎来电或留言咨询。
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