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三级拉曼显微光谱系统 （Model: Trivista CRS+）
德国S&I GmbH TriVista CRS+ 产品定位：多功能开放式自动化“光谱成像综合分析系统”。
TriVista CRS+ 三级显微拉曼光谱仪，高性能模块化设计，具有以下优势：
1. 集成多功能：如拉曼，荧光，暗场光谱，TCSPC荧光寿命，变温红外光谱，时间分辨光谱等；
2. 适用性宽：结合多种测试环境要求，如大样品光路系统，低温，强磁，高温，AFM。
3. 开放性强：可集成多路激光器，四个探测器，四个狭缝入口；
4. 超高光谱分辨率：0.14cm-1(加模式); 超低波数拉曼性能：>=5cm-1(减模式)
5. 系统自动控制与高可靠性，系统设计合理，结构稳定，光路不受温度影响，不需专业人员维护
6. 与OPO连续可调波长激光器搭配做共振吸收拉曼，软件控制波长扫描，适于如碳管拉曼测试研究。
TriVista CRS+ 性能：
·激光器深紫外到近红外波长范围
·多达内置4个波长激光器，
·外置外接大型激光器
·紫外和可见光/近红外双光束路径
·自动控制激光选择
·自动对准，聚焦和校准功能
·超高拉曼光谱分辨率 ＜0.14cm-1 @ 633 nm
·低波数拉曼,可测试到 +/- 5 cm-1
·高波数范围: 9000cm-1（@ 532nm）
·热电制冷和液氮制冷探测器
·正置/倒置/双显微镜
·空间分辨率：XY 1um; Z 2um
·步进电机和压电驱动XYZ位移台
·快速3D拉曼Mapping
·荧光寿命成像Mapping功能
·集成控制液氮温度冷热台
·集成液氦温度低温恒温器
·可结合拉曼成像和原子力显微镜成像
·自动控制的偏振光谱功能
·大样品箱，可放置固体样品，粉末样品，薄膜样品，比色皿池，任意解度激发
TriVista CRS+ 系统结构原理
三级联光谱仪的参数性能
加模式（1+2+3） 减模式（1-2+3）减模式1级光栅与2级光栅反向旋转，重新合光，利用狭缝的精密控制以消除激光瑞利线。
加模式/减模式同一光路，软件切换无需校正光路
VISTACONTROL跨平台控制系统
激光器自动选择，
光路的自动对准波长和强度自动校准功能
VistaControl硬件控制界面
加热、冷却阶段和低温状态的温度控制
自动Z轴聚焦拉曼成像
快速拉曼/荧光/寿命 Mapping
荧光和背景抑制
光谱库匹配数据（物质成份分析）
与原子力显微镜（AFM）连用并控制
各种数据格式导出，各种后处理程序
拓展延伸光路，与外置低温台，SEM,连用
大样品箱，可放置固体样品，粉末样品，薄膜样品，比色皿池，测吸收，透射，正反射，任意角度激发
1年
是
有
可现场培训
具体情况进项讨论
工程师免费上门服务
24小时内到达现场
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