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PA系列双折射测量仪

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品牌

Photonic Lattice

型号

PA-300

产地

亚洲日本

应用领域

暂无

台式折光仪

进口

0-130nm

<1nm(西格玛)

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主要简介:    

      PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择

  
  主要特点:
  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。

  • 视野范围内可一次测量,测量范围广。

  • 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。

  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。

  • 高达2056x2464像素的偏振相机。


 应用领域:

  • 光学镜片

  • 智能手机玻璃基板

  • 碳化硅,蓝宝石等


 
技术参数

项次项目            具体参数
1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】

2测量波长520nm

3双折射测量范围0-130nm

4测量最小分辨率0.001nm

5测量重复精度<1nm(西格玛)

6视野尺寸27x36mm到99x132mm(标准)

7选配镜头视野低至7x8.4(扩束镜头)

8选配功能实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制


 测量案例
复印机镜头测量蓝宝石测量单反相机镜头测量


售后服务

1年

安装时培训一次

1年

保修期免费更换零部件

24响应

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发布心得活动

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