仪器对比
关注
Sphere-3000 光学元件反射率测量仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/绝对反射率，适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量，还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
仪器特点：
CIE颜色测定X Y 色度图，x,y,L,a,b, 饱和度，主波长等；
显微测定微小区域的反射率，物镜对焦于被测物微小区域（直径60微米）；
消除背面反射光，无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率。
售后服务
按客户要求
是
有
面议
面议
面议
48小时内达到现场
Sphere-3000 光学元件反射率测量仪信息由爱博能(广州)科学技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于Sphere-3000 光学元件反射率测量仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
相关产品
