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１ nA-30 mA，9个量程
详询 18817557412
普通模式±10 V，高压模式±150 V
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PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统，价格请咨询(微信同号)
透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标配STM-TEM样品杆内集成纳牛力传感器，实现高精度的力学及电学测量。
性能指标
透射电镜指标：
● 兼容指定电镜型号及极靴；
● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；
● 保证透射电镜原有分辨率。
电学测量指标：
● 包含一个电流电压测试单元；
● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；
● 电流分辨率：优于100 fA；
● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；
● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。
扫描探针操纵指标：
● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；
● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；
● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。
力学传感器指标：
● 悬臂梁弹性范围1 N/m~100 N/m；
● 载荷分辨率优于5 nN（使用1 N/m悬臂梁时）；
● 自动测量力-距离曲线，自动保存。
产品特色
（1）可保证电镜原有分辨率，即使在球差内也可以拍到清晰原子像；
（2）良好的操纵稳定性，压电陶瓷驱动方式，保证高精度的操纵。样品杆具有很高的稳定性 ，探针移动平稳，实现高分辨原位观察实验；
（3）操作简便，软件界面友好易操作。控制器集成电流电压测试单元，满足大多数实验需求。位移粗调和细调全软件操作；
安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。
公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品：
（1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统；
（2）ZEM15台式扫描电子显微镜。
PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。
目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。
1年
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