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SOL型VIS-SWIR 成像探测器测试系统是一个用于测试在VIS-SWIR光谱波段敏感的成像探测器（硅/黑硅/InGaAs）的测试系统。
从设计的角度看，SOL测试系统是一种能够进行光谱带宽阶跃调节、光强连续调节的标定光源，对被测成像探测器和图像处理系统进行照射，进而分析被测成像探测器（摄像机芯）产生的图像。阶跃光谱滤波是用一组窄带滤波片来实现的。光源可在VIS-SWIR范围内（400-2500nm或更窄的波段）产生16个不同光谱波段的光。
SOL可以测量一系列辐射、光度和光谱参数。辐射参数有：噪声等效照度、响应函数（响应度、线性度、动态范围）、D*（比探测率）、量子效率、空间噪声。光度参数有：噪声等效照度、响应函数。SOL光源提供的任何窄带都可以测量辐射参数。这样也可以测量被测成像探测器的相对光谱灵敏度。
产品参数
一般参数 | |
温度范围（工作/储存） | +5oC到+35oC / -5oC到+55oC |
尺寸 | 119x40x24cm |
重量 | 29.2kg |
1年
否
有
按照合同履行
无
免费维修
8小时内响应
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