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OmniScan X3相控阵探伤仪
如今相控阵检测团队中的主力成员更加出色！OmniScan 探伤仪曾经凭借其结果可靠、图像清晰、使用方便等特性脱颖而出，成为全球范围内便携式相控阵领域中的标杆性仪器，如今这款仪器又新添了诸如全聚焦方式（TFM）图像等一些强大的功能，从而可使用户更加信心十足地完成检测工作。
基本特性
机载TOFD（衍射时差）功能
2个UT通道
通过坠落测试，符合IP65评级标准
8组声束设置
与现有的奥林巴斯扫查器和探头相兼容
16:128PR配置或32:128PR配置
符合ISO 18563?1:2015和EN12668?1:2010
可提升效率的创新特性
通过全矩阵捕获（FMC）功能可以采集到全聚焦方法（TFM）图像（可支持64个晶片的孔径）
4 GB的大文件容量，64 GB的内存
精心设计的软件，大大减少了按键的次数
在单一工作流程中创建整个扫查计划
通过“单扫”方式，快速采集校准的包络线
1024个聚焦法则
质量更好的图像可以使用户更有信心地判读缺陷指示信号
更清晰的相控阵图像有助于用户更自信地对信号指示进行 判读。通过使用全聚焦方式（TFM）功能，用户可以获得 工件整个体积各个部分的更清晰的图像，并将这些图像融 合在一起生成正确反映了工件几何形状的图像，这样就可 使用户对使用常规相控阵技术获得的缺陷特性进行验证。 可以最多使用64个激活晶片进行全矩阵捕获操作，以在很 大程度上增加全聚焦方式（TFM）的覆盖区域，并优化检 测的分辨率。
其它一些功能，包括16比特A扫描、插值和平滑，可以提 高相控阵成像的质量，从而可以更有效地完成缺陷扫查 工作。
检测工具，仪器提供
• 快速访问所需的功能，即使在检测过程中，也能做到这点
• 高效的菜单结构，意味着无需多次按动按钮，即可以完成 检测
• 兼具高性能和多功能：在需要时，可以使用高级模式访问专 家级别的功能
• 使用奥林巴斯科学云系统（OSC），以无线方式发送数据， 或与检测现场以外的同事分享屏幕
• 支持双晶线性/双晶矩阵阵列探头、动态深度聚焦、自动光 标定位以及更多其它功能
• 4 GB机载文件容量可以帮助用户在无需分段扫查或卸载数 据的情况下扫查较大的部件
• 使用内置GPS功能可以对获得检测结果的地点进行跟踪
更快地进行分析，更快地获得结果
对相控阵数据进行分析所花费的时间可能会比检测所用的时间更长。OmniScan X3探伤仪为用户提供了一些灵活好用 的工具。有了这些工具，用户无论使用仪器还是PC机，都可以对数据进行更快的分析。通过使用改进的缺陷报表和更多的导出选项，如：SD卡、USB存储器和云系统，用户可以非常简便地与其他人交流包含扫查计划和缺陷定量在内的全面性的检测结果。
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易损易耗件价格合理
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