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■ 产品说明
稳态热反射测试法将基于雷射热反射的技术（TDTR、FDTR）与稳态热传导技术结合再一起，进行快速、小尺度的稳态量测。
宽广的热传导係数测试范围从0.05W/mＫ ~ 2500W/mＫ，SSTR-F甚至能测试小至几百微米的样品。透过光纤组件和雷射的系统提供便利的使用，可选配的FDTR测量模组量测迳向、横向的热传导，以及材料边界热阻抗。搭配自动平台最大可以做到100mm的热传导分佈图。
SSTR-F是由维吉尼亚大学ExSiTE 实验室Professor Patrick Hopkins 开发。
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
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