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国产
0.7nm-10μm
±2%
10-50℃
±0.1℃
无
DLS
0.1mg/L-100mg/L
10μl
-500~+500mV
2min
无
产品简介
纳米粒度与Zeta电位分析仪是集成纳米胶体溶液的颗粒粒度，及其Zeta电位的高性能光学检测装置。该装置测量纳米颗粒的粒度和Zeta电位的原理分别是：动态光散射（Dynamic Light Scattering，DLS）技术，与电泳光散射（Electrophoretic Light Scattering, ELS）技术。应用上述技术，可以实时、准确地检测胶体溶液中纳米颗粒的粒径及粒径分布，以及Zeta电位等参数，可广泛的应用于生物、医药、化工、食品、材料制备和污水处理等领域的基础研究、质量分析和质量控制等应用。
主要技术指标与性能
DLS粒度检测 | |
粒径范围 | 1nm ~ 2μm |
检测角度 | 90° |
分析算法 | 累积法、非负最小二乘法（NNLS）、CONTIN |
Zeta电位测试 | |
检测角度 | 18° |
Zeta范围 | -500mV ~ +500mV |
粒径范围 | 1nm ~ 1μm |
系统参数 | |
温控范围 | 10°C ~ 50°C +/- 0.1°C，自动控制 |
冷凝控制 | 半导体制冷 |
标准激光光源 | 35mW，可调半导体激光器，波长635nm |
相关器 | 硬件相关器，支持多τ、线性多种模式 |
检测器 | PMT光子计数器 |
光强控制 | 0.0001% ~ 100%，手动或者自动 |
符合标准 | ISO13321， ISO22412，ISO13099-2 |
突出特点
（1）高速、准确的检测能力
（2）高性能自适应光子相关器，提高检测的实时性、准确性和重复性
（3）自适应光源强度调节，保证测量装置检测性能的稳定性和重复性
（4）高灵敏度和稳定度的光子计数级光电信号检测能力，
（5）可靠的光纤耦合装置，高效地增加DLS和ELS信号的信噪比，提高测量稳定性
（6）准确智能的频谱分析算法，提高ELS的测量精度
（7）高稳定性的光路与电路设计：消除杂散光和噪声信号的影响，结果稳定性和重复性高
1年
是
有
首次安装调试免费
有
保修期内非人为引起的损坏，免费更换、维修零件
1天内电话回应，到场解决按实际情况
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