maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪_参数

得益于其无缝设计，maxLIGHT pro可提供同品类光谱仪中最大的集光量和最高的效率。经像差校正的平场波长范围可覆盖1nm至200nm的宽光谱带宽，比如，单个光栅可覆盖5-80nm。

其模块化设计能够匹配不同的实验配置。它具有集成的狭缝支架和滤光片插入单元，以及电动光栅定位。

HPS公司专有的光谱仪设计使用光源直接成像技术。因此，不需要狭窄的入口狭缝，并且可以最大程度地收集入射光。与传统的光谱仪架构相比，到达探测器的光强会高出20倍。该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。

	在使用阿秒XUV脉冲的符合光谱应用中，通过maxLIGHT XUV（左图）对HHG进行表征。高次谐波源自单光子跃迁（蓝色箭头），而XUV和IR光的双光子跃迁则呈现为光电子谱的边带（右图）。 J. Vos et al, Orientation-dependent stereo Wigner time delay and electron localization in a small molecule Science 360 1326-1330 (2018)
	通过maxLIGHT XUV测量的HHG光谱（右图）和25fs基频光脉冲在kagomé光子晶体光纤中宽化的光谱（左图）。随着泵浦能量的增加，孤子蓝移对HHG的影响清晰可见。 F. Tani et al, Continuously wavelength-tunable high harmonic generation via soliton dynamics Opt. Lett. 42 1768-1771 (2017)
	在相同的信号强度下，与标准光谱仪（虚线）相比，maxLIGHT pro光谱仪（实线）的分辨率明显更高。要获得等价的光谱分辨率，传统光谱仪技术需要设置窄狭缝，从而显著降低信号强度。 C. Hauri et al, High-Harmonic Radiation for seeding the Swiss Free Electron Laser Andor Learning (2016)
	用maxLIGHT XUV获得的150kHz重频下截止区域内的HHG光谱。CEP的变化显示出在某些CEP设置下强度调制开始消失，表明了独立阿秒脉冲的存在。 M. Krebs et al, Towards isolated attosecond pulses at megahertz repetition rates Nature Photonics 7 555–559 (2013)
	参考光谱示例证明了maxLIGHT光谱仪的分辨能力。如图所示为飞秒激光脉冲和固体靶相互作用后，经滤光片过滤后的高次谐波谱。谐波产生过程中所固有的精细结构谱可以被maxLIGHT光谱仪清晰地分辨出来。图片上半部分：由 X 射线 CCD 相机记录的原始图像。图片下半部分：通过列合并获得的谐波谱。 L. Waldecker et al, Focusing of high order harmonics from solid density plasmas Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)

技术参数

Topology类型	像差校正平场光谱仪和光束分析仪
波长范围	1-200nm
光源距离	可根据用户实际光路灵活调整
探测器类型	CCD or MCP/CMOS
真空兼容度	<10-6mbar(UHV超高真空版可定制)
无狭缝技术	含
入射狭缝	可调
光栅定位	闭环电控台
滤光片插入装置	含
控制接口	USB 或 Ethernet
软件	Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK
定制化	可根据需求定制
可选项	非磁性，旋转几何，偏振测量等
	SXR	XUV	VUV
波长范围	1-20nm	5-80nm	40-200nm
色散能力	0.2-0.4nm/mm	0.5-1.3nm/mm	0.9-1.6nm/mm
分辨率	<0.015nm at 10nm	<0.028nm at 40nm	<0.05nm at 120nm

‍‍应用

高次谐波发生源
阿秒科学
激光与物质强烈的相互作用
自由电子激光
激光和放电产生的等离子体源
x射线激光
激光驱动二次源

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