产品简介
平场、垂直入射光谱仪
专有的无狭缝设计以保证最高效率
波长范围30 ~ 250 nm
同品类中最紧凑的光谱仪
模块化、成套设计
easyLIGHT XUV以前所未有的效率提供宽带光谱测量。 无狭缝设计直接对辐射源成像，从而消除了繁琐的入口狭缝。 30至250nm的光谱范围方便地涵盖了HHG和等离子体诊断中的许多应用。 与掠入射光谱仪相比，easyLIGHT XUV的垂直入射设计可提供简单的安装和对准。 模块化设计与各种实验几何形状和配置相匹配。 easyLIGHT具有集成的狭缝固定器和闭环电动光栅定位功能。
探测器可选类型：
VUV CCD相机具有最高的分辨率和动态范围
MCP、CMOS探测器具有最宽的波长覆盖范围和门控及增强探测器能力
基于easyLIGHT光谱仪的定制设计可讨论
无狭缝设计
HPS公司专有的光谱仪设计可用于直接源成像。 因此，不需要狭窄的入口狭缝，并且可以最大程度地收集入射光。 与传统的光谱仪架构相比，到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。
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Topology/类型 | aberration-corrected flat-field spectrometer 像差校正平场入射光谱仪 |
波长范围 | 30-250nm |
光源距离 | 可根据用户实际光路灵活调整 |
探测器类型 | CCD /MCP/CMOS |
真空兼容度 | <10-6mbar (UHV超高真空版本可定制) |
无狭缝技术 | 含 |
输入狭缝 | 可选 |
光栅定位 | 闭环电控台 |
滤光片插入单元 | 含 |
数据接口 | USB or Ethernet |
软件 | Windows UI / Labview, VB, C, C++ SDK |
定制能力 | 可根据需求定制 |
其余可选项 | 非磁性，旋转几何等 |
色散能力 | ~2.0nm/mm |
分辨率 | <0.1nm |
平场面物理尺寸 | 75mm |
偏差角 | 94° |
应用
高次谐波光源
阿秒科学
强激光与物质相互作用
激光和放电产生等离子体源
同步辐射光束表征
自由电子激光
1年
是
有
不限人次交货时现场培训
质保期内免费保养
质量保证期内提供保修（人为破坏因素、遇不可抗力或使用不当除外）
24小时内做出响应，提出解决方案，如有必要，48小时内上门
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