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简介：
虹科Onyx系统弥合了宏观与纳米级工具的鸿沟，实现表征面积从 0.5 mm² 扩展到大面积 (m²) ，推动了研究材料的产业化。与其他大面积测量方法（如四探针法）相比，Onyx 能够测量样品质量的空间分布。 与拉曼、SEM 和 TEM 等显微方法相比，其数百微米的空间分辨率能够快速表征大面积样品。
特点：
均匀性和均质性检查
测定电导和电阻
测定电迁移率和载流子密度
整体样品质量控制
与弗劳恩霍夫研究所(Fraunhofer Institute)共同开发的 T-Wave 发射器/接收器
样品尺寸：从 1x1mm 到200x200mm (8”)
可定制的检测区域（可达m²）
无损检测分析
超快测速：12 cm²/min
HD高清光学相机
单侧检测
无需样品制备
三轴自动定位系统
全铝制外身，坚固稳定
功能/提供以下物理特性：
1.电导率
2.电阻率
3.电荷载流子迁移率
4.电荷载流子密度
5.折射率
6.介电参数，ε’ 和 ε”
7.吸收功率
8.单频特性
9.厚度
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太赫兹技术测量石墨烯与二维材料的电学参数
材料 2022-11-28
30天
1年
提供付费培训
24小时内
是
不支持
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