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10-4Ω～105Ω
≤±3%
10-4Ω～105Ω
≤±3%
331 mm x 329 mm x 80 mm
1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA
≤±3%
低阻双电四探针测试仪HRDZ-300C电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
表面电阻或电导不能准确测量，只能近似测量，因为体积电阻或电导总是受到测量方法的影响。测量值还受到表面污染的影响。表面污染及其积聚速度受到许多因素的影响，包括静电充电和界面张力。这些因素反过来可以影响表面电阻。当包括污染，但是在通常常识下判断不是电绝缘材料的材料性能时，此时表面电阻或电导可视为与材料性能相关。
适用范围四端测试法是目前较先进之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。
低阻双电四探针测试仪HRDZ-300C功能及参数介绍：
1.聚苯乙烯板10mm厚度；电流电极长5mm，电极间距：50mm±1mm或100mm±1mm；2.宽试样接触力：10mm宽试样约0.65N;20mm宽试样约1.3N
3.试样尺寸：宽10mm±0.5mm或20mm±0.5mm；长70mm；厚度为2mm，4mm或6.3mm厚度均匀度为±5%.
4. 液晶显示， 数字按键操作，可选配PC软件报表导出和数据管理；
5.电阻测量范围：104Ω～1×1013Ω
6.电阻率测量范围：104～ 2.0×1013 Ω-cm
7.测试电压：0-1000V
8.基本准确度：2%以内（标准电阻）
9.液晶显示：电阻率、电阻、温度、电流、电压、可输入测试样品数据
10.使用环境：温度：0℃～40℃，相对湿度<80%
11.电源：”AC 220V，50HZ
12.测量模式：配置232和USB通讯接口，液晶显示测试或PC软件测试.
低阻双电四探针测试仪HRDZ-300C参照标准：GB/T 22042-2008《服装 防静电性能 表面电阻率试验方法》；EN 1149-1-1995 《防护服 静电性能 No.1部分表面电阻检验方法和要求》；GB/T 1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》（与国际标准IEC93-1980等效）；FZ/T 64013-2008 《静电植绒毛绒》；
低阻双电四探针测试仪HRDZ-300CSJ/10694-2006《电子产品制造与应用系统防静电检测通用规范》6.1及ASTM D257《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》要求制作。GB/T 2439-2001《硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定》；GB/T 10581-2006 《绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法》 ；GB/T 1692-2008 《硫化橡胶绝缘电阻率的测定》；GB/T 12703.4-2010 《纺织品 静电性能的评定 第４部分：电阻率》 GB/T 10064-2006《测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法》。
低阻双电四探针测试仪HRDZ-300C电阻或电导可用于间接预测某些材料的低频率电介质击穿和损耗因数性能。电阻或电导通常作为湿度含量，固化程度，机械连续性或不同类型老化的间接测量方式。这些间接测量的效用取决于通过理论或经验研究确立的相关度。表面电阻的降低可导致因为电场强度降低而发生电介质击穿电压的增加，或者由于应力面积的增加而发生电介质击穿电压的降低。
7天
1年
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