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光谱透过率测试仪
描述
YOA-8405-01系列透过率测试仪主要用于快速测量曲面或者平面材料样品的透过率，并能实时显示曲线，透过率，半高宽等数据。该仪器提供CMOS、CCD和InGaAs等多种探测器以支持在400-1700nm光谱范围内定制，并配置二次开发包，支持用户集成开发。
特点
多种探测器可供选择
支持400-1700nm范围内的定制开发
智能化的软件设计，操作简单
支持系统集成和SDK二次开发
典型测试数据
塑料样品的光谱透过率
应用
滤光片和光学镜片的透过率测量
面板透光孔的透过率测量
弧形边IR孔、镀膜镜、胶合镜和平行平板的透过率测量
技术参数
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30天
1年
额外提供免费培训
48小时内
是
2天内
否
45天
15
否
否
否
是
否
是
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技术参数
不支持
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