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SOC710 SWIR 短波红外高光谱成像仪是原型号SOC720的升级版，更轻便、快捷、精确；是一款高质量、高性能的科研级高光谱成像仪，光谱范围900~1700nm。具有卓越的高光谱分辨率 (2.75nm)， 成像分光计和高灵敏度的制冷型InGaAs 阵列检测器，使得SOC710 SWIR能够以16bit的数字分辨率同时收集640*568像素、288个波段的高光谱信息。其卓越的性能及成像质量，在同类产品中无出其右。
技术参数
SOC710 SWIR 短波红外高光谱成像仪 |
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光谱范围 |
900~1700 nm |
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光谱分辨率 |
2.75 nm |
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光谱波段数 |
288 |
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数字光圈 |
F/2.0 |
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镜头焦距 |
8mm、12.5mm、16mm、25mm、35mm和50mm可选 |
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扫描速度 |
60~120行/秒 |
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测量速度 |
~10秒/Cube |
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数字分辨率 |
14 bit |
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像素 |
640x568 |
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扫描方式 |
内置平移推扫 |
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数据接口 |
USB |
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供电 |
DC12V / AC220V |
1年
否
无
1人次技术培训
1年一次
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