XNano-3D-FEIS 单倾电学样品杆 纳控XNano原位样品杆
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- 500 mA
- 10 fA（取决于源表）
- ±10 V（取决于源表）
- 2 mm
- 10 nm
- 0.1nm
- 0.1μm
- 0.2nm
- 360°
- 0.1°
- ＜2 nm/min
- 可根据需求定制化开发
JEOL/FEI 力学样品杆 JEOL/FEI 电学样品杆 JEOL/FEI 光电样品杆 JEOL/FEI 三维重构样品杆
售后服务
120天
1年
安装调试现场免费培训
到货后0天内
2小时内
是
Ins_8af99eb1
产品质量:9
售后服务:9
易用性:10
性价比:9
原位电学样品杆对于研究样品在电学条件下的行为非常有帮助。它能够实现高精度的原位观察和分析，为科研工作提供了独特的视角和数据。
Ins_29206c7e
产品质量:10
售后服务:9
易用性:9
性价比:9
操作简单方便，容易上手。仪器的质量可靠，耐用性强，能够承受长时间的实验操作。而且它的兼容性较好，能够与多种电镜设备配合使用，拓展了应用范围。
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