仪器对比
关注
- 机械接触式
- 0.1 μm （标准量程）
包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪
仪器名称：CHY-02测厚仪
制造商：山东泉科瑞达仪器设备有限公司
仪器品牌：泉科瑞达
包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪
包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪是一种高精度的测量设备，主要用于测量塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度。以下是对接触式包装薄膜厚度测量仪的详细介绍：
包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪产品特征
高精度测量：采用机械接触式测量原理，通过精密的位移传感器测量薄膜材料的厚度。
自动升降测头：在测试过程中，测量头自动升降，减少人为因素造成的误差。
操作简便：配备大液晶屏显示，操作界面直观，支持手动和自动两种测量模式。
数据管理：实时显示测量结果，包括最大值、最小值、平均值和标准偏差，方便数据分析。
系统标定：配置标准量块用于系统标定，确保测试精度和数据一致性。
打印功能：系统支持数据实时显示、自动统计和打印，方便获取测试结果。
包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪技术参数
测试范围：0～2mm（标配），可选配0～6mm或0～12mm的测量范围。
分辨率：0.1μm，确保极高的测量精度。
测量压力：17.5±1 kPa（薄膜），50±1 kPa（纸张），适应不同材料的测量需求。
接触面积：50mm²（薄膜），200mm²（纸张），可根据测试材料选择。
电源：AC 220V 50Hz，符合多数实验室的电源要求。
外形尺寸：设备体积适中，便于实验室内安置。
净重：大约26kg，便于移动和携带。
执行标准
该仪器符合多项国家和国际标准，如GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等。
包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪应用领域
广泛应用于塑料薄膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度测量，适用于包装材料生产过程中的质量控制、研发与技术创新等领域。
仪器配置
标准配置通常包括主机、微型打印机、标准量块等。可选配件包括专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码等。
30天
1年
额外提供免费培训
相关产品
