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F50 薄膜厚度测量仪
自动化薄膜厚度绘图系统
依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得最大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。
系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编 辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。
可测样品膜层
基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括：
选择Filmetrics的优势
桌面式薄膜厚度测量的专家
24小时电话，E-mail和在线支持
所有系统皆使用直观的标准分析软件
附加特性
嵌入式在线诊断方式
免费离线分析软件
精细的历史数据功能，帮助用户有效存储，重现与绘制测试结果
1年
否
无
1次线上培训
无
因产品质量问题免费保修（各种消耗品除外），仪器提供全面维护，使之处于正常工作状态
产品质保期内本公司提供36小时内的维修服务响应（除节假日外），以最快的速度派遣
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