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薄膜厚度测量仪

报价 ¥10万 - 20万

品牌

Rtec

型号

FT-100

产地

美洲美国

应用领域

共3个

进口

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                  FT-100 薄膜厚度测量仪


薄膜厚度测量范围 (Thickness Range): 1 nm - 1.8 mm

波长范围 (Wavelength Range): 200 nm - 1700 nm

精度 (Precision): <0.01 nm or 0.01%

稳定性 (Stability): <0.02 nm or 0.03%

光斑大小 (Spot Size): Depends on objective (4 um to 200 um. 2mm) 

功能: 测量薄膜厚度、光学常数,反射率和透过率

单层膜或多层膜叠加层; 适用于几乎所有透明,半透明,低吸收系数的薄膜测量,包括液态膜或空气层。

测试条件: 平面或曲面

可配XY平台实现全样品膜厚 mapping 


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                   可集成于以上测试平台 ( 三维轮廓仪,微纳米压痕/划痕仪,摩擦磨损仪等)

典型用户
用户单位 采购时间
苏州实验室 2023-09-18
售后服务

1年

现场免费

指导

免费维修

如有必要24小时到达现场

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