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FT-100 薄膜厚度测量仪
薄膜厚度测量范围 (Thickness Range): 1 nm - 1.8 mm
波长范围 (Wavelength Range): 200 nm - 1700 nm
精度 (Precision): <0.01 nm or 0.01%
稳定性 (Stability): <0.02 nm or 0.03%
光斑大小 (Spot Size): Depends on objective (4 um to 200 um. 2mm)
功能: 测量薄膜厚度、光学常数,反射率和透过率
单层膜或多层膜叠加层; 适用于几乎所有透明,半透明,低吸收系数的薄膜测量,包括液态膜或空气层。
测试条件: 平面或曲面
可配XY平台实现全样品膜厚 mapping
可集成于以上测试平台 ( 三维轮廓仪,微纳米压痕/划痕仪,摩擦磨损仪等)
其他 2022-06-06
汽车及零部件 2022-05-23
石油/化工 2022-05-10
用户单位 | 采购时间 |
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苏州实验室 | 2023-09-18 |
1年
是
有
现场免费
指导
免费维修
如有必要24小时到达现场
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