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仪器简介：
型号：S1 TITAN300
功能二：可测量轻元素
S1 TITAN300手持式合金分析仪是世界第一台配置了硅漂移探测器（SDD）的手持X射线荧光光谱仪，检测器能量分辨率高达140eV，大幅度地提高了分析速度和灵敏度。能够在空气模式下，无需真空或氦气冲洗即可测量铝合金中的Mg、Si，镍合金中的Al以及钢材中的Si、S、P。
优点
无损、定量分析
快速、便携、可靠
能够分析Al, Mg, Si
可编辑用户数据库
测量元素范围可低至Mg(12)
微软实时系统(MS CE)软件提供图谱分析
高灵敏度，可检测低至PPM的微量元素
PXRF软件还具有定性和定量分析功能，控制光管的电压和电流，使之适用于大范围的元素测量。
NASA/Bruker共有真空专利-无氦气消耗，精度可靠
功能模块
定量分析
牌号识别
混料识别
合格与否判定
图谱显示
应用领域
石油化工
航空航天
军工
钢铁
电站电厂
锅炉压力容器
机械制造与加工
金属回收与分类
贵金属
矿石/土壤/玩具/RoHS
技术参数：
技术规格
重量： 1.5kg
尺寸： 30cm(L) x 10cm(W) x 28cm(H)
激发源： X射线管，Ag靶，40kV
检测器： XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快；
能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps
操作系统
HP掌上电脑：Windows Mobile5.0 Bruker 专用软件
冷却系统： Peltier 半导体冷却系统
电源 交、直流供电；2块充电锂电池，可连续工作8-12小时
工作条件：湿度范围：-20℃～+55℃ 湿度范围：0-95%
电池充电器 交流充电器：110/220V，50/60Hz
计算机/显示器：240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏
测量模式
样品表面温度 牌号识别、定量分析、显示测量谱线、合格与否判定
使用热表面适配器，最高可测500℃高温件
数据传输 USB，无线蓝牙，SD卡
数据存储 主机：512MB
存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个牌号和测量数据
安全：密码保护，设有多级安全锁
运输箱：减震、抗压、防水、密封仪器箱
支持语言：包括中、英文在内共12种语言(用户自选)
质保期：2年
获得认证：CE、TUV、ISO9001、IECEE
主要特点：
优点
无损、定量分析
快速、便携、可靠
能够分析S、P、Al, Mg, Si
可编辑用户数据库
测量元素范围可低至Mg(12)
微软实时系统(MS CE)软件提供图谱分析
高灵敏度，可检测低至PPM的微量元素
PXRF软件还具有定性和定量分析功能，控制光管的电压和电流，使之适用于大范围的元素测量。
NASA/Bruker共有专利-无真空－无氦气消耗，精度可靠
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