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hast稳态湿热试验箱DR-HAST450D
HAST（Highly Accelerated Stress Test）老化寿命试验箱一般用于测试电子元器件、半导体器件、电路板等在高温高湿环境下的可靠性。其测量对象可以包括但不限于以下几种：
电子元器件：比如集成电路芯片、二极管、电容器、电阻器等。
半导体器件：比如晶体管、场效应管（MOSFET）、可控硅（SCR）等。
电路板和组件：比如印刷电路板（PCB）、连接器、继电器等。
封装材料：比如焊料、塑料封装材料等。
通过将这些对象置于高温高湿条件下，加速测试环境对其的影响，可以评估它们在实际使用中的可靠性和耐久性。注意，在进行HAST测试时，需要根据具体的规范和标准来确定测量对象以及测试条件。
hast稳态湿热试验箱DR-HAST450D技术参数
设定温度 | +100 ℃~+132℃(饱和蒸气温度) | 蒸气湿度 | RT+5℃~60℃ | |
升温时间 | 常温 →+ 132℃ 55 min | 温度波动度 | ±0.5℃ | |
温度偏差 | ±2.0℃ | 压力范围 | 0.5~2kg/cm2 | |
加压时间 | 0 Kg-2 Kg /cm2约45分 | 湿度均匀度 | ±5.0% | |
加热方式 | 钛管加热 | 电 源 | AC220/380V，50/60Hz | |
安全装置 | 无熔丝开关、超温、超压保护、保险丝、故障警告系统、缺水报警保护、反压门锁装置 | |||
型 号 | DR-HAST-350 | DR-HAST-450 | ||
内部尺寸 WxHxD(cm) | Φ 30x45 | Ф 45x50 | ||
不饱和高压蒸汽的恒定湿热箱DR-HAST350G 详情介绍
不饱和高压蒸汽的恒定湿热箱DR-HAST350G试验标准
GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热
IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热
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