型号: | UltimMax TLE |
产地: | 英国 |
品牌: | 牛津仪器 |
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应用领域: |
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旗舰款SDD传感器Ultim Max TLE,搭载于透射电子显微镜(TEM),经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息。
这一性能是通过优化的晶体形状,100mm2大面积晶体,无窗结构,优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。
0.5 - 1.1srad的立体角
对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中,在高至1000°C的温度下采集谱图
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