薄膜测量

2018/08/22   下载量： 5 次

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应用领域 电子/电气
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薄膜测量系统是基于白光干涉的原理确定光学薄膜的厚度，通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜的厚度。

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  薄膜测量系统是基于白光干涉的原理确定光学薄膜的厚度，通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜的厚度。
  薄膜计量学包括计算薄膜是否存在和其厚度的数学方法，这些薄膜可以通过各种方法沉积到基片材料上。该项技术适合于从轮廓测量法到椭圆测量法，光谱反射法和X射线分析的测量方法。Avantes设备和光纤采样工具有利于光学反射测量，支持从半导体到太阳能和光学镀膜等多领域测量应用。

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北京爱万提斯科技有限公司
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