四点探针测试仪四点探针

参考价：$4.99万

型号：	CDE ResMap
产地：	美国
品牌：	Rayscience
评分：

核心参数

自动化度：全自动

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pvotools 4PP-scan 四探针测试仪

四探针具有6个连接通道的cartridge型（CDE）

CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪

产品详情

四探针四点探针四探针测试仪四探针太阳能硅片电阻率测试仪

光伏测试专用美国ResMap四点探针
CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与
传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良
好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳
(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精
确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配
合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且
可以Recipe设定更换
CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。

主要特点： 测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全...
美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪（Four point probe(4PP)）
设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)
主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap
规格:
1. Pin material: Tungsten Carbide.
2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.
3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜，半导体材料)
设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量，半导体，光伏

特点：
1）针尖压力一致
2）适用于各种基底材料
3）友好的用户界面
4）快速测量
5）数据可存储

应用：
1）方块电阻

2）薄片电阻

3）掺杂浓度

4）金属层厚度

5）P/N类型

6）I/V测试

四点探针测试仪四点探针信息由瞬渺科技（香港）有限公司为您提供，如您想了解更多关于四点探针测试仪四点探针报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。除供应四点探针测试仪四点探针外，瞬渺科技（香港）有限公司还可为您提供少子寿命测试仪、电化学CV分布仪（CV测试仪）、pvotools 4PP-scan 四探针测试仪等产品，公司有专业的客户服务团队，是您值得信赖的合作伙伴。

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