劳厄单晶取向测试系统

劳厄单晶取向测试系统

参考价:¥30万 - 50万
型号: 劳厄系统
产地: 英国
品牌:
评分:
核心参数
先锋科技(香港)股份有限公司
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产品详情

劳厄单晶取向测试系统

  • 背散射劳厄测试系统,实时确定晶体方向,精度高达0.1度;

  • PSEL 软件定向误差低至 0.05度;

  • 多晶硅片二维定向mapping;

  • 大批量样品筛选;

  • 超20kg重负荷样品定位

  水平放置系统

 劳厄单晶取向测试系统-2.jpg

特征

优点

<200um 光束尺寸

可测量小 晶体

电动位移台

可沿生长轴轴向扫描

电动角位移

与同步加速器/中子设备直接兼容

手动角位移

与切割刀具直接兼容

 

垂直放置系统

劳厄单晶取向测试系统-3.jpg    

特征

优点

<200um 光斑

适用于小晶粒的多晶结构

大范围电动线性扫描位移台

允许自动晶圆mapping或多个样品

电动Z 轴驱动

适用大尺寸晶棒或样品

手动角位移

允许定位到+/- 0.02度精度

 

配备PSEL CCD 背反射劳厄X-RAY 探测器

  • 有效输入探测面约: 155*105 mm

  • 最小输入有效像素尺寸83um,1867*1265 像素阵列

  • 可选曝光时间从1ms 到35分钟

  • 芯片上像素叠加允许以牺牲分辨率为代价增强灵敏度

  • 自动背景扣除模式

  • 16位高精度采集模式

  • 12位快速预览模式

  • PSEL 劳厄影像采集处理专业软件 

劳厄单晶取向测试系统-4.jpg

劳厄影像校准软件:

  • 自动检测衍射斑点,并根据参考晶体计算斑点位置;

  • 根据测角仪和晶体轴自动计算定向误差(不需要手动拟合扭曲的图形)

  • 以CSV格式保存角度测量值,以进一步保证质量的可追溯性;

  • 顶部到底部的终端用户菜单,允许资深结晶学用户自行逐步确认定位程序;

  • 基于Python的软件,允许使用套接字命令对现有软件/系统进行远程访问控制;

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系统附件包括

  • 劳厄X-RAY 探测器

  • 劳厄校准软件

  • 高亮度X-RAY 发生器

  • 电动/手动 角位移台& 高精度位移台;

  • 样本定位/视频监控 摄像头;

  • 激光距离传感器/操纵杆

典型劳厄衍射应用图样:

 劳厄单晶取向测试系统-6.jpg劳厄单晶取向测试系统-7.jpg

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劳厄单晶取向测试系统应用方向:

  • 探测器材料: HgCdTe/CdTe, InGaAs,  InSb;

  • 窗口玻璃材料&压电/铁电陶瓷: Al2O3, Quantz,LiNbO3

  • 金属合金: 钨,钼,镍基合金;

  • 激光晶体材料: YAG, KTP, GaAs

  • 薄膜/半导体基地材料: AIN, InP SiC;

  • 磁性&超导材料: BCO/BSCCO/HBCCO, FeSe, NbSn/NbTi

  • 闪烁体材料: BGO/LYSO, CdWO4, BaF2/CaF2; 


劳厄单晶取向测试系统信息由先锋科技(香港)股份有限公司为您提供,如您想了解更多关于劳厄单晶取向测试系统报价、型号、参数等信息, 欢迎来电或留言咨询。除供应劳厄单晶取向测试系统外,先锋科技(香港)股份有限公司还可为您提供其他等产品, 公司有专业的客户服务团队,是您值得信赖的合作伙伴。

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