大塚电子OPTM显微分光膜厚仪_价格_先锋科技（香港）股份有限公司

产品详情

OPTM显微分光膜厚仪

R&D ！ QC ！植入设备！都可简单实现高精度测量！

测量目标膜的绝对反射率，实现高精度膜厚和光学常数测试！（分光干渉法）

OPTM显微分光膜厚仪特长　Features

·膜厚测量中必要的功能集中于头部

·通过显微分光高精度测量绝对反射率（多层膜厚、光学常数）

·1点只需不到1秒的高速tact

·实现了显微下广测量波长范围的光学系（紫外～近红外）

·通过区域传感器控制的安全构造

·搭载可私人定制测量顺序的强大功能

·即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数

·各种私人定制对应（固定平台，有嵌入式测试头式样）

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测量项目　Measurement item

·绝对反射率测量

·膜厚解析

·光学常数解析（n：折射率、ｋ：消光系数）

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构成图

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式样Specifications

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※ 上述式样是带有自动XY平台。

※ release 时期是OP-A1在2016年6月末、OP-A2、OP-A3预定2016年9月。

＊膜厚范围是SiO2换算。

OPTM显微分光膜厚仪信息由先锋科技（香港）股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于OPTM显微分光膜厚仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。除供应OPTM显微分光膜厚仪外，先锋科技（香港）股份有限公司还可为您提供其他等产品，公司有专业的客户服务团队，是您值得信赖的合作伙伴。