OPHIR激光功率计探头
LMI系列成像亮度计
CMI系列成像亮度计
系统说明:OLED多片式IVL测试系统应用于大批量测试IVL 性能曲线以及在视角变化过程中亮度的变化。主要面向OLED 材料制作和OLED 屏体的生产厂商。一、系统原理二、系统特点· 灵活多片式· 大视角测量· CCD 自动对位系统· 系统高度集成· 温度控制单元(选配)三、设备系统实物展示四、测试项目
LCD/OLED缺陷自动光学检测系统
OLED/QLED发光器件寿命测试系统
相关产品
显微拉曼光谱仪RTS-HiR
模块化ND:YAG激光器Q-smart
OPO波长可调谐激光器
X-ray CCD相机
Yasmin: 工业用百Hz级高能量激光器
CINEBRATE: 光谱式亮度色度辐射度计
PR-680L高灵敏度双通道光度/色度/辐射度计
影像校正光栅光谱仪
大靶面EMCCD相机
ZLDM-126T新风系统CO2模块
ZLDM甲烷气体模块
光离子化 PID 传感器
OPTM显微分光膜厚仪
弯晶光谱仪
PR1050+超宽动态范围光谱式辐射亮度计
T-10 照度计
CS-150/CS-160 色彩亮度计
CL-200A 色彩照度计
LS-150/LS-160 亮度计
CA-410 色彩分析仪
显色照度计
汽车迎宾灯自动检测系统|缺陷检测
汽车玻璃透反射测量系统
氛围灯总成自动测量系统
氛围灯模组光色检测及校准系统
氛围灯模组多通道检测校准系统
车载HUD自动检测系统
OLED寿命老化测试系统
激光产品
其它光学测量仪
色度仪
光度仪、雾度仪、光泽度仪
照度计
条纹相机
关注
已关注
拨打电话
留言咨询
产品求购