OLED多片式IVL测试系统

OLED多片式IVL测试系统

参考价:¥20万 - 30万
型号: 多片式IVL
产地: 北京
品牌: TEO
评分:
核心参数
先锋科技(香港)股份有限公司
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产品详情

系统说明:OLED多片式IVL测试系统应用于大批量测试IVL 性能曲线以及在视角变化过程中亮度的变化。主要面向OLED 材料制作和OLED 屏体的生产厂商。
一、系统原理
6、多片式-OLED-IVL-测量系统.jpg

二、系统特点
· 灵活多片式
· 大视角测量
· CCD 自动对位系统
· 系统高度集成
· 温度控制单元(选配)

三、设备系统实物展示
6、多片式-OLED-IVL-测量系-2.jpg

四、测试项目
多片式-OLED-IVL-测量系统-3.jpg

OLED多片式IVL测试系统信息由先锋科技(香港)股份有限公司为您提供,如您想了解更多关于OLED多片式IVL测试系统报价、型号、参数等信息, 欢迎来电或留言咨询。除供应OLED多片式IVL测试系统外,先锋科技(香港)股份有限公司还可为您提供LCD/OLED缺陷自动光学检测系统、OLED/QLED发光器件寿命测试系统等产品, 公司有专业的客户服务团队,是您值得信赖的合作伙伴。
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