光子晶体探测器型椭偏仪

参考价：¥5万 - 10万

型号：	SE-101/102
产地：	日本
品牌：
评分：

核心参数

产地类别：进口

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Semilab SOPRA SE-2000 GES5-E光谱椭偏仪

光子晶体探测器型椭偏仪

产品详情

北京飞凯曼公司提供光子晶体探测器型椭偏仪。这种光子晶体探测器型的椭偏仪是有日本Photonic Lattice公司首创，并应用到椭偏仪的测试中。日本Photonic Lattice公司在光子晶体的研究和制造领域领先世界，由此开发出的光子晶体探测器型椭偏仪具有测试速度快、测量准确、免维护、价格低廉等特点已经在光学薄膜、半导体薄膜、有机薄膜等领域有着广泛的应用。该椭偏仪可快速准确测量薄膜的厚度和折射率的分布。

相比传统的光谱型椭偏仪，光子晶体探测器型椭偏仪避免了探测器的机械运动。使得测试速度更快、测试更加准确、成本更加低廉。

SE-101，SE-102型都是经济小巧的桌面式椭偏仪，SE-101主要用于薄膜的单点测量,SE-102则可进行点、线和面的测量。该系列设备使用简单，免维护，价格低廉，特别适合于实验室和工艺线的在线膜厚检测。

技术规格：

型号	SE-101	SE-102
重复性精度	0.1nm（厚度），0.001（折射率）
测量速度	0.05秒/点
光源	636nm半导体激光器
测量点尺寸	1mm2	点线测量：0.5mm2 面测量：0.1mm2
入射角	70度
样品尺寸	4英寸	4英寸，1轴自动，2轴手动
仪器尺寸和重量	250x175x218.3mm/4Kg	300x235x218.3mm/9Kg
数据接口	RS-232C,千兆以太网
电源	AC100-240V（50/60Hz）
软件	SE-View

详细信息请咨询我们。

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