型号: | V|tome|x S240 |
产地: | 美国 |
品牌: | 贝克休斯(原美国GE) |
评分: |
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应用领域: |
共2个
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主要功能:
灵活通用的CT系统,适于一般工作的2D和3D检测
独特的开放式双X射线源可选择,240kV为焦点射线管与180kV高功率奈米焦点X射线管
高精密CNC控制机械平台,可承受样品重量达10kg
高对比度度平板检测器
可用两倍大视野扫描,检查大型工具并获得更大的放大倍率和分辨率
可实现批量3D自动检测
增加约10倍灯丝寿命,更长的使用寿命灯丝(可选配)确保了长期稳定性和最佳系统效率
通过菱形|窗口(可选)以同样的高图像质量水平进行快达2倍的数据截取
通过高动态温度稳定的DXR数字探测器获取的30 FPS(帧每秒)(可选配)的快速CT采集和清晰的活动影像
效益特点:
3D测量软件用于空间测量,具有极高精度、再现性和简易上手
在少于1小时之内自动生成首件检测记录是可能的
使用极佳的软件模块以确保最高的CT质量且便于使用,例如
通过点击并测量|CT 用 datos|x 2.0进行高精度可重现的3D测量:全自动化执行的CT扫描,重建和分析过程
通过 VELO | CT在几秒钟或几分钟内(取决于体积大小)完成更快的三维CT重建
■ 双光管设计
为了扩大应用范围,尤其是研究和电子检测任务,V|tome|x S240 可以选择配备额外的 180 kV 高功率纳米聚焦 X 射线管,使 nanoCT® 具有 200 纳米的最佳细节检测能力。 在几分钟内,只需切换按钮,管子就会自动更换。
■ 螺旋CT
■ 偏移CT
凭借偏移CT扫描功能,V|tome|x S240可以扫描比以往更大的零件,或相同尺寸的零件,但分辨率更高。
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