JEOL JMS-T2000GC 高解析气相层析飞行时间质谱仪
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JEOL JMS-T2000GC 高解析气相层析飞行时间质谱仪

参考价：面议
型号： JMS-T2000GC AccuTOF GC-Alpha
产地： 日本
品牌： 日本电子
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核心参数
先驰精密仪器（东莞）有限公司
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产品详情
日本电子JEOL推出JMS-T2000GC AccuTOF™GC-Alpha是第六代GC-TOFMS，具有新一代的离子光学系统，可实现高效率离子传输（灵敏度）和超高解析力。

关键技术一：高性能飞行质谱仪

■ AccuTOF™GC-Alpha的基本性能

AccuTOF™GC-Alpha为二阶段反射电子管的正交加速飞行时间质谱仪（oaTOFMS）。 它采用了最佳的离子光学系统，可实现高效率离子传输（灵敏度）和超高解析力。
 
高灵敏度检测极限：IDL = 18.7 fg 宽幅质量范围：〜m / z 6,000
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Mass separation of m/z 28
高质量解析力：30,000		 高质量精度：1 ppm
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高速数据采集：50 Hz
提供绝佳GCxGC及Fast GC应用		 大宽幅动态分析范围：4级数
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■ 多样软性游离源提供新的定性分析功能
 
FI和FD〜EI / FI / FD组合离子源（可选）

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单一离子源，具有EI（硬性离子源）和FI / FD（软性离子源）技术，可自动快速切换EI和FI / FD模式。

特征
• 无需更换离子源
• 无需打破真空
• 无需反应气
通过将此组合离子源与GC结合使用，可以进行以下分析：
• GC / EI通过图书馆检索进行定性分析
• GC / FI用于分子量测定
• 精确的质量测量

 
FI和FD〜确定分子量的理想软电离技术


FI和FD是极软性的游离化技术，与EI甚至CI相比较，提供分析物的能量更低，从而产生清晰的分子离子。
FI（场离子化）
• 样品通过GC或标准样品入口系统引入离子源。
• 与CI不同，FI不使用反应气。
• 无需选择适合分析物的反应气。
FD（场脱附）
• 样品被施加到发射器上并直接引入系统中。
• 适用于热不稳定化合物的分析。
• 非常适合可溶于非极性溶剂的样品。
• 分析可分散在溶剂中的粉末样品。
• 分析低至中极性的金属错合物。
• 分析GC-MS不支持的高分子量样品，例如聚合物。


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PI（光离子源）〜EI / PI组合离子源

PI是一种软性游离方法，使用真空紫外（VUV）灯的光子进行电离。 AccuTOF™GC-Alpha具有可选的组合离子源，可同时提供EI（硬性游离源）和PI（软性游离源）。 通过简单地打开/关闭EI灯丝和PI灯，此离子源就可以在EI和PI之间进行切换。
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PI非常适合分析复杂混合物中的芳族化合物。 这些化合物强烈吸收UV光产生高强度峰。



关键技术二：新一代分析软件可实现简单，快速的操作

■ 自动化图谱分析软件：MsFineAnalysis


MsFineAnalysis为非特定目标(non-target)分析软件，结合EI / SI图谱数据进行定性分析，自动完成数据库比对、分子离子确认、精确质量、同位素分析、碎片离子比对等分析，提供了快速有效的数据分析，可以轻松地对未知化合物以及未在EI质谱库中注册的化合物进行定性分析，使用户大量减少分析数据的时间，而将更多的时间用于研究和创造！


可以直接比较两个相似的样本进行差异分析，对于制程管控、质量管理、竞品比对具有强大的分析功能！
msFineAnalysis的功能
• 自动结合EI / SI图谱数据进行定性分析
• 层析峰反折积(deconvolution)
• 组别分析提取具有常见次结构的化合物
• 直接比较两个样品光谱差异分析
• 亦可对单一EI图谱数据进行分析

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■ AccuTOF™GC-Alpha不只是GC-TOFMS，更是直接进样的Direct MS

直接MS模式（不使用GC）可用于分析不适用于GC的高沸点和高质量化合物，可以将高沸点、高分子量和非挥发性化合物直接引入离子源中。AccuTOF™GC-Alpha的质量范围为m / z 6,000或更高质量范围，因此可运用在大分子量化合物分析应用。
 

► DEP (Direct Exposure Probe)
• 将溶解或分散在溶剂中的样品添加到尖端的细丝上
• 适用于高沸点和/或热不稳定化合物
• 与EI和CI兼容使用

► DIP (Direct Insertion Probe)
• 可以将固体样品引入玻璃样品管中。
• 适用于高沸点和/或不溶性化合物
• 与EI和CI兼容使用

► FDP (Field Desorption Probe)
• 将溶解或分散在溶剂中的样品施加到尖端的碳发射器上。
• 适用于高沸点，高分子量和/或热不稳定的化合物
• 适用于中低极性金属配合物
• 用于FD软性游离法


■ 通过FD探头和Kendrick质量缺陷（KMD）分析进行聚合物分析
 
FD是一种电离方法，添加在发射器化合物会被高电场解吸并电离。 在测量过程中，流经发射器的电流可逐渐增加，因此可以在不同时间下，解离混合物中的成分，提取特定类别化合物的质谱。 此外，即使在电离过程中化合物未及时分离时，通过创建KMD图仍可以清楚地分离目标化合物。
 
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JEOL JMS-T2000GC 高解析气相层析飞行时间质谱仪信息由先驰精密仪器（东莞）有限公司为您提供，如您想了解更多关于JEOL JMS-T2000GC 高解析气相层析飞行时间质谱仪报价、型号、参数等信息， 欢迎来电或留言咨询。除供应JEOL JMS-T2000GC 高解析气相层析飞行时间质谱仪外，先驰精密仪器（东莞）有限公司还可为您提供JEOL TG-MS 热重质谱仪等产品， 公司有专业的客户服务团队，是您值得信赖的合作伙伴。
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