ZEISS光学测量ZEISS O-INSPECT

ZEISS光学测量ZEISS O-INSPECT

参考价:面议
型号: ZEISS O-INSPECT
产地: 德国
品牌: 蔡司
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核心参数
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产品详情


6.jpg光学与接触式测量的巧妙结合

ZEISS O-INSPECT


ZEISS O-INSPECT复合式测量机能够通过光学或接触式测量获取每一项特征,且符合ISO-10360验收标准。


您将受益于:


视野范围大,提供良好的图像质量

快速精准的3D接触式测量

敏感表面的光学测量

在更短的时间内提高可靠性





特点

出色的光学器件

多传感器技术

软件

视野范围大

良好的图像质量


ZEISS Discovery.V12来源于蔡司显微镜解决方案技术。与常规镜头相比,此镜头提供四倍更大观察视野,使镜头周边区域亦可确保出色的图像质量。优点:减少测量时间并具有稳定的精度。


更优对比度

ZEISS O-INSPECT照明系统


为了获得精确的测量结果,需要高对比度的图像。为此,ZEISS O-INSPECT配备了一套多功能的照明系统。迥然不同的形状、纹理和表面颜色可采取不同入射角的方式,让边缘显得清晰可见。

接触式测量

实现所需的高精度测量的正确选择。接触式探头(例如蔡司 VASTXXT)逐点扫描元件的表面。另外增加了扫描功能,因此能够提供有关特征的形状信息。


光学测量

ZEISS DiscoveryV12远心变焦镜头为测量结果提供了无失真的大观察视野,具有出色的精度,并大大缩短了测量时间。


白光

蔡司DotScan白光探头可对工件进行非接触式扫描。用于测量敏感具反射性或低对比度的表面,这类表面难以使用其它光学探头进行测量。

一款适用于所有测量任务的软件


ZEISS O-INSPECT也不吝于在软件方面下功夫。有了ZEISS CALYPSO 2020,您可以在蔡司其他的坐标测量机上使用同一款软件。ZEISS CALYPSO 2020将广泛的功能和灵活度与通用和直观的操作设计理念结合在一起。ZEISS CALYPSO 2020测量速度提高了(6倍),让您能够以相同的方式,使用各种不同的探头,便捷地完成一系列的测量工作。


ZEISS O-INSPECT

ZEISS O-INSPECT系列

300x200x200 mm3

ZEISS O-INSPECT 5/4/3

500x400x300 mm3

ZEISS O-INSPECT 8/6/3

800x600x300 mm3


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ZEISS光学测量ZEISS O-INSPECT信息由蔡司工业测量为您提供,如您想了解更多关于ZEISS光学测量ZEISS O-INSPECT报价、型号、参数等信息, 欢迎来电或留言咨询。除供应ZEISS光学测量ZEISS O-INSPECT外,蔡司工业测量还可为您提供其他等产品, 公司有专业的客户服务团队,是您值得信赖的合作伙伴。

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