飞纳台式扫描电镜 Phenom  X 断面观测插件
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飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件

参考价:面议
型号: X-view Insert
产地: 荷兰
品牌: Phenom
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核心参数
复纳科学仪器(上海)有限公司
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产品详情

飞纳台式扫描电镜 Phenom  X 断面观测插件


断面插件一般与金相样品杯结合使用。样品横截面成像的制备是 一个耗时的过程。样品通常嵌入抛光。使用断面插件,样品很容 易在支架中使用夹具固定。无需工具就可以快速、轻松地调整样 品位置。使用断面插件观察样品,可以保存样品的最初状态,可 以在生产过程中重复使用或在进一步的实验室研究中使用。 观察涂层、多层半导体和断裂表面时需要断面制样。一般来说, 这类样品都需要借助树脂固定制作成镶嵌样,耗费大量时间和精 力。 有了断面插件,就再也不需要螺丝钉和特殊工具来固定样品了。

  • 容易固定,不需要螺丝和其他的工具


飞纳-小仓-断面观测插件.jpg


主要参数:

样品大小: 15mm x 25mm(W x L)最厚为10 mm 

不需要工具

样品定位简单 

保持样品原始形貌

飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件信息由复纳科学仪器(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件报价、型号、参数等信息, 欢迎来电或留言咨询。除供应飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件外,复纳科学仪器(上海)有限公司还可为您提供Phenom台式扫描电子显微镜标准版Pure、Phenom Particle Metric 颗粒测试等产品, 公司有专业的客户服务团队,是您值得信赖的合作伙伴。
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