| 型号： | VC series-1 |
| 产地： | 日本 |
| 品牌： | 日本分光计器 |
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CCD光谱响应测量系统，半导体光谱响应测量系统
该系统可以测量光谱响应特性光电转换装置、光强控制机制和特殊的光学系统，使该系统能够在恒定的光强下，在样品表面连续照射均匀度高的单色光。
规格：
目标样品:CMOS传感器板/数码相机机身
波长范围:300 - 1300 nm
光源:氙灯/卤素灯
有效照射面积:10×10mm(可选40×40mm)
辐照强度:恒定能量10 - 50μW /cm2
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