双电测电四探针方阻电阻率测试仪

参考价：¥1万 - 2万

型号：	FT-342
产地：	浙江
品牌：	瑞柯
评分：

核心参数

检测参数：多参数
便携性：台式
电导率测量范围： 10-6
TDS测量范围： 1
电阻率测量范围： 10-5
盐度测量范围： 1
温度测量范围： 0-45
精确度： 1%
最小分辨率： 3%

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产品详情

FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪

应用说明：

覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择，

二．描述：

采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响

规格型号	FT-341	FT-342	FT-343	FT-345	FT-346	FT-347
1.方块电阻	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω /□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
2.电阻率	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm
3.测试电流	0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA	0.1μA.μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA	0.1μA、1μA、10μA，100μA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA
4.电流精度	±0.1%	±0.2%	±0.2%	±0.3%	±0.3%	±0.3%
5.电阻精度	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.显示读数	屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率
7.测试方式	双电测量
8.电源	输入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W
9.误差	≤3%（标准样片结果）
10.选购功能	选购1.pc软件；选购2.方形探头；选购3.直线形探头；选购4.测试平台；5.标准电阻.1
11.测试探头	探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针

FT-331+测试平台.jpg

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