方案摘要
方案下载应用领域 | 材料 |
检测样本 | 薄膜材料 |
检测项目 | |
参考标准 | 相对误差 塞贝克系数 ≤ 6%(拟合度:99.999%),电阻率 ≤ 5% |
本仪器采用准动态法(具有)和四探针法分别测量样品的 seebeck 系数和电阻率。不仅可用于测量半导体块状样品,康铜、镍、铋等金属半金属样品,石墨、碳材料等非金属样品的seebeck 系数和电阻率,还可测薄膜(纳米)样品的 seebeck 系数和电阻率。
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