通过偏振ATR附件测量取向膜和液晶分子

2023/07/06   下载量: 0

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利用红外光谱,通过在光路中放置偏振器测量样品的偏振特性来评估取向。已经开发了一种偏振ATR配件,可以基于ATR效应测量样品偏振,并可以分析1-2µm范围内样品表面的分子取向。该技术允许分析样品表面的分子取向,而不考虑样品厚度或材料。

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1:利用红外光谱,通过在光路中放置偏振器测量样品的偏振特性来评估取向。已经开发了一种偏振ATR配件,可以基于ATR效应测量样品偏振,并可以分析1-2µm范围内样品表面的分子取向。该技术允许分析样品表面的分子取向,而不考虑样品厚度或材料。

例如:

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2.偏振单反射ATR附件(ATR PRO610P-S,ATR PRO630P-H)的特点:

      偏振ATR(图1)提供了高偏振纯度,因为偏振器和分析仪立即配置在ATR棱镜的前面和后面。拆卸偏振器和分析仪,可以使用此附件进行标准ATR测量。ATR PRO630P-H为需要更大的晶体接触的样品的测量提供了一个高压接触选项。

3:3.1定向聚丙烯(PP)薄膜的测量

     3.2液晶分子的测量

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