高分辨率AFM的技术应用

2021/02/20   下载量： 0 次

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应用领域 电子/电气
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参考标准 ASTM，DIN

基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式），布鲁克提供的全套 AFM 模式，允许用户探测样品的电学、磁性或材料等特性。布鲁克创新的全新 PeakForce Tapping技术代表了一种新的核心成像模式，该模式已整合到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和机力学性能数据。

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高分辨率 AFM用于具有挑战性的前沿研究。

随着原子力显微镜(AFM)进入第四个十年发展，作为支持先进材料研究的主要技术，其高分辨率数据已经推动了无数学科和应用领域的新发现。自20世纪80年代引入商业原子力显微镜系统以来，布鲁克一直引领着AFM设备的性能扩展。 随着技术的成熟，AFM为科学家提供了在日益复杂的样品上进行物理化学性质测试的可能，而不仅仅是形貌表征。

我们想要帮助您更轻松地使用设备并取得更多的成果。这使得布鲁克 AFM 在仪器创新领域一直保持在前沿位置。比如，由布鲁克AFM提供的峰值力轻敲技术正在以每天三篇同行评审发表的论文的速度，帮助研究人员推进新的纳米力学、纳米电学和纳米电化学研究。


AFM.png


仪器型号：

AFM2.png

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文献贡献者

冠乾科技（上海）有限公司
铜牌会员 丨 第7年
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