2003年 在东京大学完成硕士课程的学习并加入 Toray Research Center, Inc.2014-2015年 在法国巴黎南方大学（巴黎第十一大学）理学院固体物理实验室STEM组工作，利用电子显微镜参与纳米级光谱研究。2020年 因 "通过电子能量损失光谱和理论计算分析纳米范围内材料的电子结构和介电性能" 被京都大学授予理学博士学位。他在《应用物理学杂志》、《超显微学》、《显微学》和《微分析》等杂志上发表了许多论文。他的主要研究领域是利用透射分析电子显微镜对半导体材料进行定性分析。